【测厚仪】_薄膜_纸张_塑料_厚度测量仪 - 济南兰光机电技术有限公司
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薄膜测厚仪的相关知识及测试原理标准介绍

2020年11月18日 没有评论

薄膜测厚仪,顾名思义为用于塑料薄膜材料的厚度检测的专业测量仪器。其名称为“薄膜测厚仪”,行业中又被称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度仪、薄膜厚度测试仪等等。一般来说,仪器能够测量的材料包括:塑料薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料的厚度。

分类: 仪器设备

薄膜厚度测量仪和纸张测厚仪型号介绍

2020年11月18日 没有评论

薄膜厚度测量仪和纸张测厚仪型号介绍——Labthink兰光C640测厚仪可专业用于各种塑料薄膜、纸张、纸板的厚度检测。C640测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、的进行连续多点测量。

分类: 仪器设备

CHY-CA测厚仪设备使用要求与注意事项

2020年11月18日 没有评论

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

分类: 仪器设备

纸张测厚仪纸张厚度仪CHY-CA的保养维护方法

2020年10月20日 没有评论

Labthink兰光纸张测厚仪纸张厚度仪CHY-CA,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。设备专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

分类: 文献

薄膜厚度测量仪CHY-C2A的使用注意事项

2020年10月20日 没有评论

Labthink兰光CHY-C2A薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

分类: 仪器设备

塑料薄膜测厚仪的特点和工作原理

2020年10月20日 没有评论

薄膜的厚度是否均匀一致,是检测薄膜各项性能的基础。很显然,倘若一批单层薄膜的厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性能等指标,更会影响薄膜的后续加工。此外,对产品的厚度采取合理的控制,不但能够提高产品质量,还能降低材料的消耗,提高生产效率。因此,薄膜厚度是否均匀,是否与预设值一致,厚度偏差是否在指定范围之内,这些都称为薄膜是否能够具有某些特性指标的重要前提。薄膜厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。

分类: 仪器设备

PI膜相关知识与PI膜厚度的检测方法

2020年9月8日 没有评论

Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪,可用于聚酰亚胺薄膜厚度的检测,测试分辩率高达0.1微米,完全满足聚酰亚胺薄膜对厚度高精度测试的要求。该仪器主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量,并输出相应电信号;控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等;打印输出系统的功能是统计结果的输出,打印试验结果。

分类: 文献

图书馆古籍文献数字化管理专用测厚仪介绍

2020年9月8日 没有评论

图书馆古籍文献数字化管理专用测厚仪,即Labthink兰光CHY-C2A型号测厚仪,该仪器采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

分类: 仪器设备

CHY-C2A型单晶硅片厚度测量仪器(单晶硅片测厚仪)介绍

2020年9月8日 没有评论

Labthink兰光的CHY-C2A型测厚仪,可用于单晶硅片厚度的检测,测试分辩率高达0.1微米,完全满足单晶硅片对厚度高精度测试的要求。

分类: 仪器设备

各检测项目意义与包装材料性能表征

2020年8月11日 没有评论

曾经很多客户致电我们兰光或发消息询问小编,“包材的揉搓试验具体检测材料的什么性能?”,又或者“包装溶剂残留检测有什么意义?”。想来,还是有很多客户及朋友们对这些检测项目略感陌生,对项目检测表征包材什么性能不是很熟悉,今天小编特意为大家整理了一下,将以下内容奉上,希望对大家有所帮助!

分类: 文献