薄膜测厚仪 纸张测厚仪 薄膜厚度测量仪

Labthink兰光纸张测厚仪纸张厚度仪CHY-CA，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。设备专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

Labthink兰光CHY-C2A薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

薄膜的厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜的厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性能等指标，更会影响薄膜的后续加工。此外，对产品的厚度采取合理的控制，不但能够提高产品质量，还能降低材料的消耗，提高生产效率。因此，薄膜厚度是否均匀，是否与预设值一致，厚度偏差是否在指定范围之内，这些都称为薄膜是否能够具有某些特性指标的重要前提。薄膜厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。

Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，可用于聚酰亚胺薄膜厚度的检测，测试分辩率高达0.1微米，完全满足聚酰亚胺薄膜对厚度高精度测试的要求。该仪器主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量，并输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。

图书馆古籍文献数字化管理专用测厚仪，即Labthink兰光CHY-C2A型号测厚仪，该仪器采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

Labthink兰光的CHY-C2A型测厚仪，可用于单晶硅片厚度的检测，测试分辩率高达0.1微米，完全满足单晶硅片对厚度高精度测试的要求。

曾经很多客户致电我们兰光或发消息询问小编，“包材的揉搓试验具体检测材料的什么性能？”，又或者“包装溶剂残留检测有什么意义？”。想来，还是有很多客户及朋友们对这些检测项目略感陌生，对项目检测表征包材什么性能不是很熟悉，今天小编特意为大家整理了一下，将以下内容奉上，希望对大家有所帮助！

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