CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度准确测量。

薄膜厚度检测仪器，顾名思义是是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。厚度的大小影响着产品整体的拉伸强度、抗冲击性、阻隔性等综合的物理特性，因此是生产厂家不可忽视的重点监测指标。

机械接触式薄膜测厚仪，顾名思义，其测量方式为机械接触式测量方法，市场上有面接触式和点接触式两种测厚仪器。一般适用于测量材料的整体厚度。机械接触式测厚仪的测试原理为：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

薄膜测厚仪，顾名思义为用于塑料薄膜材料的厚度检测的专业测量仪器。其名称为“薄膜测厚仪”，行业中又被称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度仪、薄膜厚度测试仪等等。一般来说，仪器能够测量的材料包括：塑料薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料的厚度。

薄膜厚度测量仪和纸张测厚仪型号介绍——Labthink兰光C640测厚仪可专业用于各种塑料薄膜、纸张、纸板的厚度检测。C640测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、的进行连续多点测量。

CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

Labthink兰光CHY-C2A薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

薄膜的厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜的厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性能等指标，更会影响薄膜的后续加工。此外，对产品的厚度采取合理的控制，不但能够提高产品质量，还能降低材料的消耗，提高生产效率。因此，薄膜厚度是否均匀，是否与预设值一致，厚度偏差是否在指定范围之内，这些都称为薄膜是否能够具有某些特性指标的重要前提。薄膜厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。

图书馆古籍文献数字化管理专用测厚仪，即Labthink兰光CHY-C2A型号测厚仪，该仪器采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

Labthink兰光的CHY-C2A型测厚仪，可用于单晶硅片厚度的检测，测试分辩率高达0.1微米，完全满足单晶硅片对厚度高精度测试的要求。