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Labthink兰光CHY-C2测厚仪的技术资料介绍

2012年1月10日 发表评论 阅读评论
产品视频:Labthink兰光—CHY-C2测厚仪

 
CHY-C2测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

CHY-C2测厚仪特  征

微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
标准接触面积、测量压力(非标可选)
标准量块标定
微型打印机
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输

CHY-C2测厚仪技术指标
测量范围:0~2mm(常规)
     0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电  源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
净  重:33kg

CHY-C2测厚仪标  准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

CHY-C2测厚仪配  置
标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件
选 购 件:专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

以上【CHY-C2测厚仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!

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