薄膜测厚仪的相关知识及测试原理标准介绍

薄膜测厚仪，顾名思义为用于塑料薄膜材料的厚度检测的专业测量仪器。其名称为“薄膜测厚仪”，行业中又被称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度仪、薄膜厚度测试仪等等。一般来说，仪器能够测量的材料包括：塑料薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料的厚度。

从薄膜厚度测量方式不同的角度来划分，薄膜测厚仪可分为接触式和非接触式两种，即测量薄膜厚度时仪器是否接触到测试样品本身。

Labthink兰光（济南兰光机电技术有限公司）始创于1989年，是一家专业从事软包装检测仪器的研发、生产与销售于一体的技术型企业，为全球数万家客户提供专业全面的产品品质控制解决方案！公司自主研发生产的“C640薄膜测厚仪”，是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。该仪器严格按照相关标准要求设计制造，采用机械接触式测试原理，非常适合薄膜材料进行厚度的高精度测量，是企业进行产品厚度技术指标质量控制的必备仪器。

C640薄膜测厚仪是在Labthink不断的创新研发和技术积累中推陈出新的一款新型测厚仪，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。

仪器的测试原理为：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

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